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涂層測(cè)厚儀的選型方法

更新時(shí)間:2019-06-26點(diǎn)擊次數(shù):365

用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀,磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米,這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型,探頭與主機(jī)分離型,前者操作便捷,后者適用于測(cè)非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè),測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金,銀等金屬的厚度。
 

  兩用型
 

  一體兩用型(4張)
 

  儀器由德國(guó)生產(chǎn),集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能,可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如:
 

  * 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
 

  * 鋁、鎂材料上陽(yáng)極氧化膜的厚度。
 

  * 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
 

  * 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。
 

  * 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
 

  儀器符合guo家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
 

  分體兩用型(4張)
 

  儀器特點(diǎn)
 

  采用雙功能內(nèi)置式探頭,自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料,并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行測(cè)量。
 

  符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu),可以在任何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。
 

  采用菜單式功能選擇方式,操作十分簡(jiǎn)便。
 

  可設(shè)定上下限值,測(cè)量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí),儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。
 

  穩(wěn)定性,通常不必校正便可長(zhǎng)期使用。
 

  技術(shù)規(guī)格
 

  量 程: 0~2000μm ,
 

  電 源: 兩節(jié)5號(hào)電池
 

  標(biāo)準(zhǔn)配置
 

  常規(guī)型
 

  對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)guo家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。
 

  覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
 

  覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
 

  X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
 

  隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用較廣泛的測(cè)厚儀器。
 

  采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測(cè)速度快,能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。

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